DIN DIN IEC 62047-11
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 11: Test method for linear thermal expansion coefficients of MEMS materials (IEC 47F/49/CD:2010)
Дата издания: 01.06.2010 Язык: Английский+ Английский Немецкий Статус: Pending/Draft
Регистрация / Вход
Корзина
В корзине содержатся
отобранные вами для
заказа документы.
Воспользуйтесь поиском
или каталогом стандартов
для того, чтобы найти
нужный вам документ.
Заказ документа
Ваш e-mail:
Пароль:
Комментарий:Регистрируясь, Вы даете АО «Кодекс» согласие на обработку переданных персональных данных с целью оказания запрашиваемых услуг.
