DIN DIN EN 60749-40
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge (IEC 60749-40:2011); German version EN 60749-40:2011
Дата издания: 01.02.2013 Язык: Немецкий Статус: Active/Current
Регистрация / Вход
Корзина
В корзине содержатся
отобранные вами для
заказа документы.
Воспользуйтесь поиском
или каталогом стандартов
для того, чтобы найти
нужный вам документ.
Заказ документа
Ваш e-mail:
Пароль:
Комментарий:Регистрируясь, Вы даете АО «Кодекс» согласие на обработку переданных персональных данных с целью оказания запрашиваемых услуг.
